產(chǎn)品介紹

Thorlabs低插入損耗單模光纖跳線

Thorlabs低插入損耗單模光纖跳線

特性

低插入損耗(典型值)：

0.3 分貝 (600 - 800 nm)

0.5 - 0.6 分貝(405 - 532 nm和488 - 633 nm)

0.9 分貝(320 - 430 nm)

有效波段范圍：320 - 430 nm，405 - 532 nm，488 - 633 nm或是633 -780 nm

可選的接頭有(皆為2.0 毫米的窄口接頭):

FC/PC

FC/APC

FC/PC轉FC/APC

具有每根跳線單獨測試的數(shù)據(jù)

附帶兩個CAPF防塵帽

Thorlabs公司提供兩頭帶有FC/PC或FC/APC接頭的低插入損耗單模跳線。此外，我們還提供FC/PC轉FC/APC跳線。這些小纖芯跳線由我們自己的工廠中用設備進行制造，每一根都經(jīng)過人工挑選，保證光纖具有很小的公差以及匹配的插芯。它們都經(jīng)過測試，保證了其低損耗特性。

這里提供的跳線設計用于320 - 430 nm，400 - 532 nm，488 -633 nm，或者633 - 780 nm光波范圍的信號傳輸，在低插入損耗跳線之間分別具有典型0.9 dB，0.5-0.6 dB或者0.3 dB插入損耗。我們的FC/PC跳線具有較高的50分貝(典型值)回波損耗，F(xiàn)C/APC跳線具有60分貝(典型值)回波損耗。每根光纖跳線的測量性能參數(shù)都在其附帶的規(guī)格表中有詳細介紹。

在標準跳線中，光纖參數(shù)(如纖芯-包層偏心度或纖芯與跳線中心的不對準程度)都會有微小的差異。在使用標準匹配套管對準單模跳線的纖芯時，其小纖芯會使這些差異更加嚴重，或是導致更高的插入損耗。通過廣泛地挑選和測試過程，我們的低插入損耗跳線具有高同心度、對心良好的纖芯，可以極大地減小跳線的插入損耗(請參看對比標簽了解更多細節(jié))。

生產(chǎn)低插入損耗跳線的流程的*步是人工挑選纖芯-包層同心度高于典型值、小公差光纖外徑的光纖，從而與插芯進行匹配。每個插芯也是通過人工進行挑選，從而使插芯內徑與光纖尺寸相匹配，并匹配插芯的纖芯-外徑同心度。這樣就可以保證光纖能夠z緊湊地被包裹，并具有z佳同心度，保證低插入損耗性能。插芯經(jīng)過機器拋光，光纖纖芯與接頭插銷之間的對準公差為±5度。跳線的插入損耗通過測試，直到符合跳線的標準。通過人工挑選光纖和插芯，Thorlabs公司的低插入損耗跳線能夠具有出色的性能和質量。

我們還提供匹配套管用于連接FC轉FC、SMA轉SMA和FC轉SMA接頭。這些匹配套管可以將背向反射小化，保證每個連接光纖末端的纖芯能夠很好地對準。我們特別推薦使用我們更小公差的ADAFCPM2精密PM匹配套管，被用于達到下面說明書提到的插入損耗。

每根跳線有兩個防塵帽，能夠防止插芯末端受到塵土和其它污染物的污染。我們也單獨銷售保護FC/PC終端CAPF塑料光纖帽和CAPFM金屬螺紋光纖帽。

如果您在我們的庫存中找不到適合您應用的跳線，Thorlabs公司還提供定制低插入損耗跳線服務。請聯(lián)系技術支持了解報價。此外，點擊下面表格中連接有標準跳線定制且當天發(fā)貨服務。

用我們的Centroc測試設備所測得的結果，顯示了標準跳線(左)和低插入損耗跳線(右)的典型纖芯角度對準和同心度。

規(guī)格：

• 與另一根低插入損耗的光纖跳線配接時的插入損耗值。在405 nm波段下使用低插入損耗的跳線和一個ADAFCPM2匹配套管進行測試。
• z大衰減度數(shù)據(jù)針對無端接頭的光纖。

• 光纖經(jīng)過手工挑選，以確保更高的截止波長。在截止波長附近的單模操作需要考慮發(fā)射條件。
• 與另一根低插入損耗的光纖跳線配接時的插入損耗值。在488 nm（SM450跳線）或是630 nm（SM600跳線）波段，配合一個ADAFCPM2匹配套管利用另一根低插入損耗的跳線進行測試。
• 大衰減度數(shù)據(jù)針對無端接頭的光纖。
• 衰減度是z差值，針對z短波長的情況。

對比

405 納米跳線對比

T上圖包含了Thorlabs公司長1米、2米的低插入損耗（LIL）跳線和標準跳線之間的示例對比數(shù)據(jù)。上述數(shù)據(jù)下長1米的LIL跳線具有-0.37分貝的平均插入損耗，長2米的LIL跳線具有-0.39分貝的插入損耗，長5米的LIL跳線具有-0.59分貝的插入損耗，而長1米的標準跳線具有-2.48分貝的插入損耗，長2米的標準跳線具有-2.44分貝的插入損耗，長5米的標準跳線具有-2.42分貝的插入損耗。5米跳線所測得的插入損耗稍高，這是因為我們沒有對光纖的損耗進行校準。我們的LIL跳線的平均插入損耗與標準跳線相比平均高～7倍。

T在測試我們跳線的插入損耗時，我們將波長為405乃的光纖耦合激光光源耦合到精選的跳線中；跳線輸出功率經(jīng)過測試和調節(jié)，保證不同跳線的數(shù)值基本相同。每根待測光纖經(jīng)過檢查、清潔并連接到匹配套管上，然后記錄下跳線的輸出功率。這樣一來，就可以進行光纖插入損耗的均勻性測量，并與其它跳線的插入損耗進行對比。測試過程如右圖所示。

損傷閥值

激光誘導的光纖損傷

以下教程詳述了無終端(裸露的)、有終端光纖以及其他基于激光光源的光纖元件的損傷機制，包括空氣-玻璃界面(自由空間耦合或使用接頭時)的損傷機制和光纖玻璃內的損傷機制。諸如裸纖、光纖跳線或熔接耦合器等光纖元件可能受到多種潛在的損傷(比如，接頭、光纖端面和裝置本身)。光纖適用的z大功率始終受到這些損傷機制的z小值的限制。

雖然可以使用比例關系和一般規(guī)則估算損傷閾值，但是，光纖的損傷閾值在很大程度上取決于應用和特定用戶。用戶可以以此教程為指南，估算*降低損傷風險的安全功率水平。如果遵守了所有恰當?shù)闹苽浜瓦m用性指導，用戶應該能夠在的z大功率水平以下操作光纖元件；如果有元件并未z大功率，用戶應該遵守下面描述的"實際安全水平"該，以安全操作相關元件?？赡芙档凸β蔬m用能力并給光纖元件造成損傷的因素包括，但不限于，光纖耦合時未對準、光纖端面受到污染或光纖本身有瑕疵。關于特定應用中光纖功率適用能力的深入討論，請聯(lián)系技術支持techsupport-cn@thorlabs.com。

空氣-玻璃界面的損傷

空氣/玻璃界面有幾種潛在的損傷機制。自由空間耦合或使用光學接頭匹配兩根光纖時，光會入射到這個界面。如果光的強度很高，就會降低功率的適用性，并給光纖造成性損傷。而對于使用環(huán)氧樹脂將接頭與光纖固定的終端光纖而言，高強度的光產(chǎn)生的熱量會使環(huán)氧樹脂熔化，進而在光路中的光纖表面留下殘留物。

損傷的光纖端面

未損傷的光纖端面

插芯/接頭終端相關的損傷機制

有終端接頭的光纖要考慮更多的功率適用條件。光纖一般通過環(huán)氧樹脂粘合到陶瓷或不銹鋼插芯中。光通過接頭耦合到光纖時，沒有進入纖芯并在光纖中傳播的光會散射到光纖的外層，再進入插芯中，而環(huán)氧樹脂用來將光纖固定在插芯中。如果光足夠強，就可以熔化環(huán)氧樹脂，使其氣化，并在接頭表面留下殘渣。這樣，光纖端面就出現(xiàn)了局部吸收點，造成耦合效率降低，散射增加，進而出現(xiàn)損傷。

與環(huán)氧樹脂相關的損傷取決于波長，出于以下幾個原因。一般而言，短波長的光比長波長的光散射更強。由于短波長單模光纖的MFD較小，且產(chǎn)生更多的散射光，則耦合時的偏移也更大。

為了*地減小熔化環(huán)氧樹脂的風險，可以在光纖端面附近的光纖與插芯之間構建無環(huán)氧樹脂的氣隙光纖接頭。我們的高功率多模光纖跳線就使用了這種設計特點的接頭。

曲線圖展現(xiàn)了帶終端的單模石英光纖的大概功率適用水平。每條線展示了考慮具體損傷機制估算的功率水平。z大功率適用性受到所有相關損傷機制的z低功率水平限制(由實線表示)。

制備和處理光纖

通用清潔和操作指南建議將這些通用清潔和操作指南用于所有的光纖產(chǎn)品。而對于具體的產(chǎn)品，用戶還是應該根據(jù)輔助文獻或手冊中給出的具體指南操作。只有遵守了所有恰當?shù)那鍧嵑筒僮鞑襟E，損傷閾值的計算才會適用。

安裝或集成光纖(有終端的光纖或裸纖)前應該關掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接頭或光纖的脆弱部分而造成損傷。

光纖適用的功率直接與光纖/接頭端面的質量相關。將光纖連接到光學系統(tǒng)前，一定要檢查光纖的末端。端面應該是干凈的，沒有污垢和其它可能導致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纖，使用前應該剪切，用戶應該檢查光纖末端，確保切面質量良好。

如果將光纖熔接到光學系統(tǒng)，用戶先應該在低功率下驗證熔接的質量良好，然后在高功率下使用。熔接質量差，會增加光在熔接界面的散射，從而成為光纖損傷的來源。

對準系統(tǒng)和優(yōu)化耦合時，用戶應該使用低功率；這樣可以*地減少光纖其他部分(非纖芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包層、涂覆層或接頭，有可能產(chǎn)生散射光造成的損傷。

高功率下使用光纖的注意事項一般而言，光纖和光纖元件應該要在安全功率水平限制之內工作，但在理想的條件下(佳的光學對準和非常干凈的光纖端面)，光纖元件適用的功率可能會增大。用戶先必須在他們的系統(tǒng)內驗證光纖的性能和穩(wěn)定性，然后再提高輸入或輸出功率，遵守所有所需的安全和操作指導。以下事項是一些有用的建議，有助于考慮在光纖或組件中增大光學功率。

要防止光纖損傷光耦合進光纖的對準步驟也是重要的。在對準過程中，在取得z佳耦合前，光很容易就聚焦到光纖某部位而不是纖芯。如果高功率光束聚焦在包層或光纖其它部位時，會發(fā)生散射引起損傷

使用光纖熔接機將光纖組件熔接到系統(tǒng)中，可以增大適用的功率，因為它可以*地減少空氣/光纖界面損傷的可能性。用戶應該遵守所有恰當?shù)闹笇碇苽?，并進行高質量的光纖熔接。熔接質量差可能導致散射，或在熔接界面局部形成高熱區(qū)域，從而損傷光纖。

連接光纖或組件之后，應該在低功率下使用光源測試并對準系統(tǒng)。然后將系統(tǒng)功率緩慢增加到所希望的輸出功率，同時周期性地驗證所有組件對準良好，耦合效率相對光學耦合功率沒有變化。

由于劇烈彎曲光纖造成的彎曲損耗可能使光從受到應力的區(qū)域漏出。在高功率下工作時，大量的光從很小的區(qū)域(受到應力的區(qū)域)逃出，從而在局部形成產(chǎn)生高熱量，進而損傷光纖。請在操作過程中不要破壞或突然彎曲光纖，以盡可能地減少彎曲損耗。

用戶應該針對給定的應用選擇合適的光纖。例如，大模場光纖可以良好地代替標準的單模光纖在高功率應用中使用，因為前者可以提供更佳的光束質量，更大的MFD，且可以降低空氣/光纖界面的功率密度。

階躍折射率石英單模光纖一般不用于紫外光或高峰值功率脈沖應用，因為這些應用與高空間功率密度相關。

320 - 430 nm低插入損耗單模光纖跳線

a.    與另一低插入損耗光纖跳線配接時的插入損耗值。將低插入損耗單模跳線在405 nm波長下，搭配ADAFCPM2匹配套管進行測試。

b.    z大衰減度數(shù)據(jù)針對的是無端接頭的光纖。

405 - 532 nm低插入損耗單模光纖跳線

a.    與另一低插入損耗光纖跳線配接時的插入損耗值。將低插入損耗單模跳線在405 nm波長下，搭配ADAFCPM2匹配套管進行測試。

b.    z大衰減度數(shù)據(jù)針對的是無端接頭的光纖。

c.    所述的衰減度是z差情況的值，針對的是z短設計波長。

488 - 633 nm低插入損耗單模光纖跳線

a.    與另一根低插入損耗的光纖跳線配接時的插入損耗值。在488 nm波長下使用低插入損耗單模跳線和一個ADAFCPM2匹配套管進行測試。

b.    手選光纖來保證更高的截止波長。對于截止波長附近的單模操作，需考慮發(fā)射條件。

c.    z大衰減數(shù)據(jù)針對無端接頭的光纖。

633 - 780 nm低插入損耗單模光纖跳線

a.    與另一低插入損耗的光纖配接時的插入損耗。在630 nm波長下將低插入損耗單模跳線搭配ADAFCPM2匹配套管進行測試。

b.    波長范圍是截止波長和光纖不再傳輸?shù)倪吘壊ㄩL之間的光譜區(qū)域，它表示光纖以低衰減度傳輸TEM₀₀模的區(qū)域。對于這種光纖，邊緣波長通常比截止波長長200nm。

c.    衰減度是z差情況的值，針對的是z短波長。z大衰減度數(shù)據(jù)針對的是無端接頭的光纖。

d.    衰減度是z差情況的值，針對的是z短波長。